919SZ納米粒度及Zeta電位分析儀

簡要描述：儀思奇919SZ納米粒度及Zeta電位分析儀是新一代納米粒度Zeta電位分析系統(tǒng)，廣泛應用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質等樣品的顆粒表征。919SZ可同時測量顆粒粒度分布，還可以測量膠體的Zeta電位。是表征納米分散體系的利器。

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廠商性質：代理商
更新時間：2023-12-28
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國產(chǎn)納米粒度電位儀

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919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀測試原理

測量粒度分布原理—動態(tài)光散射(DLS)法原理基于顆粒的布朗運動，當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時，由于布朗運動引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動速度高，通過相關運算得到相關函數(shù)，獲得顆粒粒徑信息。

測量Zeta電位原理——電泳光散射（ELS）法原理帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運動，單位電場強度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時，會帶著緊密吸附層和部分擴散層一起移動，與液體之間形成滑動面，滑動面與液體內部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關系遵循 Henry方程，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位。