粒子表面存在的凈電荷，影響粒子界面周圍區(qū)域的離子分布，導(dǎo)致接近表面抗衡離子(與粒子電荷相反的離子)濃度增加。于是，每個(gè)粒子周圍均存在雙電層。

　　常見的測(cè)試zeta電位方法有幾種？

　　1)電泳光散射法

　　市面上常見的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大，這種方法也被廣大客戶接受，執(zhí)行ISO-13099-2標(biāo)準(zhǔn)。

　　此方法的弊端有：

　　* 樣品必須要進(jìn)行稀釋后測(cè)試；

　　* 不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大；

　　* 測(cè)試結(jié)果重復(fù)性較差，一般在±10mV以內(nèi)；

　　2)超聲電聲法(執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)ISO-13099-1)

　　電聲法是采用聲波信號(hào)，因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢(shì)。穿透力強(qiáng)，可以進(jìn)行原液測(cè)試。原液測(cè)試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測(cè)試結(jié)果會(huì)不一樣，因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。

　　此方法優(yōu)勢(shì)有：

　　* 樣品無需稀釋，原液進(jìn)行測(cè)試分析樣品的粒徑和zeta電位值，更加準(zhǔn)確表征樣品本身狀態(tài)。

　　* 測(cè)試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0.3mV以內(nèi)。

　　* 可以測(cè)試微觀參數(shù)，如德拜長(zhǎng)度，杜坎數(shù)，雙電層的面電荷密度等。

　　3)流動(dòng)電位法

　　以上兩種方法主要是測(cè)試液體的zeta電位，有很多客戶需要測(cè)試固體表面的zeta電位，中空纖維內(nèi)部的zeta電位，膜表面的zeta電位此時(shí)即需要流動(dòng)法來進(jìn)行測(cè)試。即在樣品池中加入樣品，在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池，緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極，測(cè)試得到電壓值。

　　4)微電泳儀

　　此方法優(yōu)勢(shì)：

　　* 可以得到zeta電位分布情況；

　　* 得到每個(gè)粒子的zeta電位值；

　　* 進(jìn)行統(tǒng)計(jì)不同zeta電位的顆粒的數(shù)量，從而得到百分比；

　　*可視化，直觀的看到粒子的運(yùn)動(dòng)速度和軌跡，便于教學(xué)演示；

　　* 可以測(cè)試氣泡的zeta電位值；

　　* 能夠區(qū)分顆粒修飾程度和表面修飾結(jié)構(gòu)的不同；